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1、材料結(jié)構(gòu)研究的基本方法：任務(wù)有三個：成分分析、結(jié)構(gòu)測定和形貌分析。

2、成分分析：光譜、紅外、分析材料的主要基團、色譜、分析材料的組成特征、熱譜、分析材料的熱性能、質(zhì)譜、分析化合物的分子量和元素組成。

3、結(jié)構(gòu)測定：X-衍射，晶體結(jié)構(gòu)。舉例：蒙脫土。電子衍射：測定細微晶體的亞微米結(jié)構(gòu)，來分析表面或涂層的結(jié)構(gòu)。中子衍射：測定材料的缺陷、空穴等，還可研究生物大分子在空間的構(gòu)型。俄歇電子能譜：是用一束匯聚電子束，照射固體后在表面附近產(chǎn)生了二次電子。由于俄歇電子在樣品淺層表面逸出過程中沒有能量的損耗，因此從特征能量可以確定樣品的元素成分。

4、圖像分析：掃描電鏡、分析材料的表面形貌、透射電鏡、分析材料的顆粒大小，晶體材料的缺陷等。